Investigation théorique et expérimentale des propriétés structurales et optiques des matériaux luminescents

Investigation théorique et expérimentale des propriétés structurales et optiques des matériaux luminescents

Spectres d’émission à température ambiante

Pour le monocristal SrF2 : Tm3+ (2% mol) Les spectres d’émission et d’excitation ont été mesurés à l’aide d’un spectro-fluorimètre de luminescence de type Perkin Elmer LS-50B travaillant dans le domaine spectrale 200-900 nm (Figure II- 13). L’échantillon est excité par une lampe Xénon. Le faisceau lumineux émis par la lampe est focalisé sur la fente d’entrée du monochromateur d’excitation dont le rôle est de sélectionner la longueur d’onde d’excitation. Une partie du faisceau sortant est dirigée vers un détecteur de contrôle au moyen d’une lame transparente. Le signal émis par l’échantillon est analysé par un deuxième monochromateur puis détecté par un détecteur placé à la sortie du monochromateur appelé aussi monochromateur d’émission. – Spécifications de la LS-50B Le Perkin-Elmer LS50B est un spectromètre de luminescence avec la capacité de mesure de la fluorescence, la phosphorescence, la chimioluminescence et la bioluminescence. – Source d’excitation : lampe à décharge au xénon, équivalent à 20 kW pour la durée de 8 ms. La largeur à mi-hauteur d’impulsion <10 ms. – Détecteur d’échantillonnage : photomultiplicateur avec réponse S5 modifiés pour fonctionner à environ 650 nm. Photomultiplicateur R928 pour un fonctionnement jusqu’à 900 nm. – détecteur de Référence : photomultiplicateur avec réponse S5 modifiés pour fonctionner à environ 650 nm. – Monochromateurs : de type Monk-Gillieson couvrent les plages suivantes : Excitation 200- 800 nm, Émission 200-650 nm avec photomultiplicateur standard, 200-900 nm avec option photomultiplicateur R928. – Filtres d’émission : coupure (passe-haut) filtres à 290, 350, 390, 430 et 515 nm. – Passe-bande spectrale : Les fentes d’excitation (de 2,5 à 15,0 nm) et des fentes d’émission (2,5 à 20,0 nm) peuvent être modifiées et sélectionnées par incréments de 0,1 nm. Figure II.13 : Spectromètre Perkin Elmer LS-50B, (a) Schéma de l’appareillage, (b) Principe de fonctionnement Chapitre II Technique expérimentale et propriétés de la matrice hôte 45 Pour les spectres de luminescence de type up-conversion, la source lumineuse utilisée pour irradier les échantillons est un laser Ti : saphir modèle Cohérent 890, c’est un laser à l’état solide accordable sur un vaste domaine de longueur d’onde s’étendant de 690 à 1100nm. Ce laser présente un autre avantage, puisqu’il peut fonctionner aussi bien en mode continu (CW) qu’en mode pulsé. Dans le mode CW, le laser à Ti : saphir peut être pompé par un laser CW à argon ionisé, et peut fournir une puissance de 5W. Dans le mode pulsé, le pompage est en générale obtenu à l’aide d’un laser pulsé YAG : Nd3+ et on peut obtenir une énergie d’impulsion de 100mJ. La fluorescence est émise de façon isotrope par l’échantillon, mais elle est recueillie à 90° de la direction du faisceau de pompe, de façon à ne pas saturer le détecteur. Un jeu de lentilles permet de collecter la fluorescence émise dans un angle solide autour de cette direction et de la focaliser sur les fentes d’entrée d’un monochromateur. Les spectres d’émission sont ensuite visualisés et enregistrés à l’aide d’un analyseur de spectres optique (OSA). b- Pour le monocristal CdF2 : Tm3+ (2% mol) Les spectres d’émission ont été enregistrés a température ambiante dans le domaine 1200 nm -2500 nm. L’échantillon est excité par un laser Sa : Ti pompé par un laser Nd : YAG accordée sur une longueur d’onde de 790 nm. Le faisceau lumineux émis est focalisé avec une lentille de distance focale f=10 cm sur la fente d’entrée du monochromateur HRS2 de réseau 300 trait/ mm. On a aussi utilisé deux filtres LP1400 nm et LP 950 nm. Une partie du faisceau sortant est dirigée vers un détecteur InGaAs. La sortie du détecteur est couplée à avec une détection synchrone (Figure II.14). Les spectres d’émission sont ensuite visualisés et enregistrés avec un système d’acquisition. Chapitre II Technique expérimentale et propriétés de la matrice hôte 46 Figure II.14 : Schéma du montage expérimental pour l’acquisition des spectres d’émission II-5.3. Spectres de fluorescence Nous avons étudié les fluorescences anti-stokes des échantillons en fonction de la puissance d’excitation autour 400-600 nm . Les expériences ont été effectuées a température ambiante à l’aide d’une source d’excitation laser Sa : Ti accordée une longueur d’onde 778 nm de puissance 2W maximale, le monochromateur de marque HRS2 équipé d’un réseau comportant 1200 t/mm et ayant des fentes fixées a 0.9 mm .La détection est obtenue en utilisant un PM (198-1500 nm). Un filtre « short pass » 650 nm est également utilisé dans ce montage.

Spectres de déclin de fluorescence

Le monocristal SrF2 : Tm3+ (2% mol)

Les durée de vie des différents niveaux émetteurs de l’ion de terre rare en question sont obtenus à l’aide d’un spectromètre Perkin Elmer LS-50B. La mesure consiste à l’enregistrement de plusieurs spectres avec des temps de retard croissant (0.03, 0.04, 0.05…s ) jusqu’à l’intensité des pics observés devienne très faible. A l’aide d’un logiciel graphique Chapitre II Technique expérimentale et propriétés de la matrice hôte 47 (origine) on fait le traitement des spectres obtenus et on extrait les spectres de déclin de fluorescence des différents niveaux. La fluorescence d’un niveau émetteur décroit de manière exponentielle avec le temps quand les transferts d’énergie sont négligeables et la concentration d’ions dopants est faible 1 𝜏𝑓𝑙𝑢𝑜𝑟𝑒𝑠𝑐𝑒𝑛𝑐𝑒 = 1 𝜏𝑟𝑎𝑑 + 𝑊𝑁𝑅 

Le monocristaux CdF2 : Tm3+(2% mol)

Le déclin de fluorescence des transitions a été enregistré pour les deux échantillons sous excitation d’un oscillateur paramétrique optique (OPO) accordable entre 400 et 2400 nm pompé par un laser pulsé Nd3+ : YAG pulsée. Le signal de fluorescence est focalisé ensuite par une lentille sur la fente d’un monochromateur après un filtrage du signal d’excitation. Le signal est détecté ensuite par un photomultiplicateur pour le domaine visible et par un InGaAs pour la région spectrale infrarouge. Les déclins sont finalement enregistrés avec un oscilloscope

Table des matières

Introduction générale
Chapitre I : Spectroscopie des ions terres rares
I-1.Généralité sur les terres rares
I-2.Structure électronique
I-3. Spectroscopie des ions terre rares
I-4.Hamiltonien de l’ion libre de terre rare
I-5. L’effet de champs cristallin
I-6.Règle de sélection
I-7. Interaction du rayonnement avec les TR3+
I-7.1 Mécanisme radiative
I-7.1.1.Absorption
 .Méthode de calcul de la section efficace d’absorption
I-7.1.2. Emission
a- Emission spontané
b- Emission stimulé
c- Méthodede calcul de la section efficace d’émission
 Méthode de réciprocité
 Méthode de Füchtbauer-Ladenburg
I-7.2. Mécanisme non-radiative
I-8. Transfert d’énergie
I-8.1. Transfert d’énergie résonnant
I-8.2. Transfert d’énergie non résonnant
a- Relaxation croisé (self quenching)
b- Transfert d’énergie assisté de phono
c- Transfert par up conversion
I-9. Caractéristiques spectroscopiques d’ions étudiés de Tm3+
Chapitre II : Technique expérimentale et propriétés de matrice hôte
II-1. Technique de synthèse des monocristaux
II-1.1.Principe de Bridgman-Stochbarger
II-1.2.Elaboration de cristal
II-2. Propriétés structurales des matrices MF2
II-3.Propriétés physiques des matrices Cristallines
II-4.Diffraction de rayons X
II-4.1.Généralité sur les rayons X
II-4.2. Appareillage
II-4.3. La loi de Bragg
II-4.4 .Diffractomètre Bragg- Brentano
II-5.Enregistrement des spectres d’absorption et d’émission
II-5.1.Spectre d’absorption a la température ambiante
a- Pour le cristal SrF2 :2%Tm3+
b- Pour les cristaux CdF2 :5%Tm3+
II-5.2. Spectres d’émission à température ambiante
a- Pour le cristal SrF2 :2%Tm3+
b- Pour les cristaux CdF2 :5%Tm3+
II-5.3. Spectres de fluorescence
II-5.4. Spectres de déclin de fluorescence
II.5.4.1. Le monocristal SrF2 : Tm3+ (2% mol)
II.5.4.2. Le monocristaux CdF2 : Tm3+(2% mol)
Chapitre III : Formalise de Judd- Ofelt
III.1. La théorie de Judd-Ofelt
III.2. Force de transition radiative
III.2.1. Force de transition dipolaire magnétique
III.2.2.Force de transition dipolaire électrique
III.3.Forces d’oscillateurs
III.4.Détermination les coefficients de Judd-Ofelt
III.5. Probabilités de transitions radiatives
III.6. Eléments de matrice réduit
III.6.1. Eléments de matrice réduite de l’opérateur U (t)
III.6.2. Eléments de matrice réduite de l’opérateur(𝐿⃗ + 2𝑆 )
III.7. Etapes de Calcules
III.8. Section efficace de gain
Chapitre IV : Propriétés spectroscopiques des monocristaux
IV.1Caractérisation structurale et spectroscopique de la matrice SrF2 : Tm3+(2%mol )et CdF2 : Tm3+ (5%)
IV.1. Caractérisation structurale et spectroscopique de la matrice SrF2 :Tm3+(2%mol)
IV.1.1. Difractions par rayon Xsur un monocristal de SrF2 : Tm3+ (2% mol)
IV.1. 2 Spectre d’absorption à température ambiante des monocristaux SrF2 :Tm3+(2%)
IV. 1. 3 Exploitation des spectres d’absorption en théorie de Judd-Ofelt
IV.1.4 Détermination des forces de transitions mesurées et calculées
IV.1.5 Détermination des probabilités d’émission spontanées par utilisation du formalisme de JO
IV.1.6 Spectroscopie d’émission des ions Tm3+ insérés dans la matrice cristalline SrF2
IV.1.6. 1 Spectre d’excitation de l’émission bleue à 450 nm
IV.1.6. 2 Spectre d’émission Stokes UV-Visible
a- Emission Stokes par excitation du niveau 3P2
b- Emission Stokes par excitation du niveau 1D2
IV.1.6. 3 Emission par up conversion
IV.1.6.4. Émission infrarouge
IV.1.6.5 Section efficace de l’émission infrarouge
IV.1.6.6 Gain optique Section efficace de gain
IV.1.7.Section efficace de gain
IV.2. Caractérisation structurale et spectroscopique de la matrice CdF2 : Tm3+ (5%mol)
IV.2.1. Spectre d’absorption à température ambiante
IV.2.2. Spectre d’émission
a) Spectre infrarouge
b) Spectre d’émission visible sous excitation à 768 nm
IV.2.3 Etude des déclins de fluorescence visible et proche infrarouge
a) Durée de vie de fluorescence du niveau visible 1G4 des ions Tm3+ dopant la matrice cristalline CdF2
b) Durée de vie de fluorescence du niveau proche infrarouge3F4 des ions Tm3+ dopant la matrice cristalline CdF2
Bibliographie
Conclusion générale

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